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功率半导体测试解决方案

为更好的支撑半导体行业发展需求，凯发k8国际首页登录针对半导体测试推出整套解决方案，特别针对车规级、SiC模块客户提供稳定可靠的自动化测试方案及可靠性测试装备。

技术优势

高效率测试

多线程独立运行
批量传输、接收指令
通讯协议自定义封装

量产测试平台

成熟的功率模块自动化测试应用模块化设计，自由的测试工艺配置

高测量精度

测量回路抗干扰能力强，通过量程分档实现高精度测量

高可靠性

长期应用案例
元器件老化验证
魔盒设计，方便维保

应用场景

解决方案

电性能测试方案

功率半导体电性能测试主要包括器件的动静态测试，凯发k8国际首页登录推出了主要针对IGBT、SiC MOS模块的电性能测试系统。

动态测试系统产品优势

测试效率高，常规半桥模块测试UPH可达500Pcs；
杂感低，系统杂感小于20nH；
配置灵活，可根据客户被测件或具体测试要求，灵活配置测量探头；
支持QG测试、支持NTC测试；
可根据客户需求，选配ICES&VTH测试功能。

静态测试系统产品优势

测试效率高，常规半桥模块测试UPH可达1500Pcs；
魔盒设计，电流源、通道切换都是单板组建，可快捷更换维护；
通用性高，支持IGBT、SiC MOS测试，支持SiC测试标准，支持不同拓扑测试；
继电器寿命高，且具备寿命计数功能；
激励源回读，所有测试条件给到的电压、电流激励，都可以回读；
实验室模式下，各测试项的测试波形在上位机界面展示；

了解详情

功率模块自动化测试方案

MX300A系列自动化测试产线由上料机、绝缘测试、预热、高温静态测试、高温动态测试、冷却及NG下料、常温动态测试、常温静态测试、拱度、全尺寸、NG下料、下料机等模块组成，采用公司自主研发的测试系统与自动化相结合，为IGBT自动化产线测试提供一个精准、稳定的测试平台，用于产线全方面检验IGBT的参数特性。